IC检查用插座
公开
摘要
IC检查用插座(10)具备：销块(30)，其具有接触探针阵列(60)；引导板(40)，其将检查对象IC封装(60)向接触探针阵列引导；和罩盖(50)，其通过与销块(30)卡合的卡合部的卡合来压住引导板。销块(30)具有：支承部(70)，其以能够装拆的方式支承引导板(40)；和被卡合部(36)，通过罩盖(50)在被支承的引导板(40)上滑动移动从而卡合部与该被卡合部卡合。
基本信息
专利标题 ：
IC检查用插座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114616725A
申请号 ：
CN202080075470.8
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-08-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
甘田康平松井勇辉
申请人 ：
株式会社友华
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
陈伟
优先权 ：
CN202080075470.8
主分类号 ：
H01R13/502
IPC分类号 ：
H01R13/502 H01R13/508 H01R13/512 H01R13/631 H01R12/71
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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