基于弯曲波导传输损耗的折射率检测传感器、芯片及方法
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摘要

本发明提供基于弯曲波导传输损耗的折射率检测传感器、芯片及方法,折射率检测传感器包括:激光发射部;传输光纤;微流控芯片,包括:基板,和设置在基板中的光纤导槽、弯曲波导、样品通道、空腔以及空气透镜;光纤导槽用于固定传输光纤的传输端;弯曲波导为圆弧形,入口端与传输光纤的传输端相连通;样品通道位于弯曲波导的一侧,主体区域沿着弯曲波导延伸方向延伸,用于装载待测液体;空腔设置在弯曲波导的另一侧,且主体区域覆盖弯曲波导的另一侧;空气透镜与弯曲波导出口端相对应,对从该弯曲波导出口端射出的光线进行准直;以及光功率计,与空气透镜相对向,通过测量空气透镜准直后的光线的功率,得到反映待测液体折射率的光功率数据。

基本信息
专利标题 :
基于弯曲波导传输损耗的折射率检测传感器、芯片及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112816411A
申请号 :
CN202110004124.7
公开(公告)日 :
2021-05-18
申请日 :
2021-01-04
授权号 :
CN112816411B
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
雷诚严若鹏杨婧靓刘胜
申请人 :
武汉大学
申请人地址 :
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
代理机构 :
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
俞琳娟
优先权 :
CN202110004124.7
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/41  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-06-14 :
授权
2021-06-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20210104
2021-05-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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