基于扫描探针的纳米颗粒三维操控装置及其方法
授权
摘要

本发明公开了一种基于扫描探针的纳米颗粒三维操控装置及方法。该装置包括一个导电且表面镀有低表面能涂层的扫描探针,以及扫描模块和观测模块。利用观测模块观测扫描探针及纳米颗粒的位置;扫描模块根据观测模块收集的位置图像,将扫描探针移动到纳米颗粒的附近,并通过在探针表面施加电压信号来调控探针与纳米颗粒之间的相互作用,最终可以实现三维空间上单个纳米颗粒的拾取、转移和放置。本发明通过对扫描探针的电压信号进行调控,进而引入介电泳力实现对其表面能的调节,能够高效可控地重复实现对纳米颗粒的操控。

基本信息
专利标题 :
基于扫描探针的纳米颗粒三维操控装置及其方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112834786A
申请号 :
CN202110026544.5
公开(公告)日 :
2021-05-25
申请日 :
2021-01-08
授权号 :
CN112834786B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
张伟华吕亚坤
申请人 :
南京大学
申请人地址 :
江苏省南京市栖霞区仙林大道163号
代理机构 :
江苏法德东恒律师事务所
代理人 :
李媛媛
优先权 :
CN202110026544.5
主分类号 :
G01Q60/00
IPC分类号 :
G01Q60/00  G01Q60/10  G01Q20/02  G01Q10/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01Q
扫描探针技术或设备;扫描探针技术的应用,例如,扫描探针显微术
G01Q60/00
特殊类型的SPM或其设备;其基本组成
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-06-11 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01Q 60/00
申请日 : 20210108
2021-05-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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