联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法
授权
摘要

本发明适用于雷达信号处理技术领域,提供了一种联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法,该方法包括:通过设定距离波门的中心坐标为等效旋转中心距离坐标,根据第一回波信号将距离空变相位相位转化为平动残余相位,得到校正后的第二回波信号;构造基于平动残余相位的相位误差矩阵和对应的压缩感知矩阵,根据基于平动残余相位的相位误差矩阵和压缩感知矩阵,获得符合稀疏高分辨双基地ISAR成像场景的第二回波信号对应的稀疏化成像模型;基于统计先验进行图像和噪声建模,通过全贝叶斯推理稀疏,对稀疏化成像模型进行稀疏高分辨成像重构和残余相位误差迭代校正,输出目标重构图像,从而可以得到质量较高的图像。

基本信息
专利标题 :
联合残余相位消除的双基地ISAR稀疏高分辨成像方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113030963A
申请号 :
CN202110153871.7
公开(公告)日 :
2021-06-25
申请日 :
2021-02-04
授权号 :
CN113030963B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
史林刘利民曾瑞马俊涛郭宝锋胡文华朱晓秀尹园威
申请人 :
中国人民解放军陆军工程大学
申请人地址 :
河北省石家庄市和平西路97号
代理机构 :
石家庄国为知识产权事务所
代理人 :
许小荣
优先权 :
CN202110153871.7
主分类号 :
G01S13/90
IPC分类号 :
G01S13/90  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统,例如雷达系统;利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-04-19 :
授权
2021-07-13 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20210204
2021-06-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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