一种X射线相位灵敏度分辨率板
授权
摘要
本实用新型公开了一种X射线相位灵敏度分辨率板,包括基底、相位结构;相位结构的尺寸与成像系统的X射线能量相对应,且相位结构呈空间周期分布,相位结构为设置在基底表面的第一相位结构;或相位结构为在基底内开设空腔形成的第二相位结构;或相位结构为在基底内开设空腔并在空腔中填充形成的第三相位结构;相位结构和空间周期之间关系满足:在相位结构不变时,空间周期逐次变化;在空间周期不变时,相位结构逐次变化;基底、第一相位结构、第三相位结构采用低原子序数材料,且基底采用的材料与第一相位结构和第三相位结构采用材料不同。本实用新型可用于X射线相衬成像系统相位灵敏度和图像分辨率的评估和实验检测。
基本信息
专利标题 :
一种X射线相位灵敏度分辨率板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922075370.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-26
授权号 :
CN211718161U
授权日 :
2020-10-20
发明人 :
黄建衡雷耀虎李冀刘鑫
申请人 :
深圳大学
申请人地址 :
广东省深圳市南山区南海大道3688号
代理机构 :
深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
张秋红
优先权 :
CN201922075370.2
主分类号 :
G01N23/041
IPC分类号 :
G01N23/041 G01N23/083 G01N23/20 G01V13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/041
相位差图像,例如使用光栅干涉仪
法律状态
2020-10-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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