用于X射线暗场、相位对比和衰减图像采集的系统
公开
摘要

本发明涉及一种用于X射线暗场、相位对比和衰减图像采集的系统(10)。所述系统包括X射线源(20)、干涉仪装置(30)、X射线探测器(40)、控制单元(50)和输出单元(60)。定义从X射线源的中心延伸到X射线探测器的中心的轴;检查区域被定位于X射线源与X射线探测器之间。所述轴延伸穿过检查区域,并且检查区域被配置为使得能够定位要被检查的对象。干涉仪装置被定位于X射线源与X射线探测器之间。所述干涉仪装置包括第一光栅(32)和第二光栅(34)。针对第一操作模式:所述控制单元被配置为控制至少一个横向移动的换能器(70)以在垂直于轴的横向位置方向上移动第一光栅或移动第二光栅。所述控制单元被配置为控制所述X射线探测器以在所述第一光栅和/或所述第二光栅移动时采集图像数据。在所述X射线探测器的曝光时间期间,所述第一光栅和/或所述第二光栅已经移动了小于所述第一光栅和/或所述第二光栅的周期的距离。所述控制单元被配置为控制所述第一光栅和/或所述第二光栅的移动,使得在所述第一光栅和/或所述第二光栅正在移动时采集图像数据。针对所述第一操作模式,所述输出单元被配置为输出以下中的一项或多项:暗场图像数据、相位对比图像数据和衰减图像数据。

基本信息
专利标题 :
用于X射线暗场、相位对比和衰减图像采集的系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114269250A
申请号 :
CN202080059728.5
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2020-08-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
M·P·维尔梅茨T·克勒R·普罗克绍F·J·普法伊费尔
申请人 :
皇家飞利浦有限公司
申请人地址 :
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
刘兆君
优先权 :
CN202080059728.5
主分类号 :
A61B6/00
IPC分类号 :
A61B6/00  
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学;卫生学
A61B
诊断;外科;鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器,如与放射治疗设备相结合的
法律状态
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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