用于X射线暗场、相衬和衰减图像采集的系统和方法
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摘要

本发明涉及一种用于X射线暗场、相衬和衰减图像采集的系统(1010),所述系统包括:X射线源(1020);干涉仪装置(1030);X射线探测器(1040);控制单元(1050);至少一个振动换能器(1080);处理单元(1090);以及输出单元(1060)。轴线被定义为从所述X射线源的中心延伸到所述X射线探测器的中心。检查区域位于所述X射线源与所述X射线探测器之间,其中,所述轴线延伸通过所述检查区域,并且其中,所述检查区域被配置为使得能够定位要检查的对象。所述干涉仪装置位于所述X射线源与所述X射线探测器之间,并且其中,所述干涉仪装置包括第一光栅(1032)和第二光栅(1034)。针对第一操作模式:所述控制单元被配置为控制至少一个横向移动换能器(1070),以在垂直于所述轴线的横向位置方向上移动所述第一光栅或移动所述第二光栅。所述控制单元被配置为控制所述X射线探测器以在所述第一光栅和/或所述第二光栅正在移动时采集图像数据。在所述X射线探测器的曝光时间期间,所述第一光栅和/或所述第二光栅已经移动了小于所述第一光栅和/或所述第二光栅的周期的距离。所述控制单元被配置为控制所述第一光栅和/或所述第二光栅的移动,使得在所述第一光栅和/或所述第二光栅正在移动时采集所述图像数据。所述输出单元被配置为输出以下各项中的一项或多项:暗场图像数据、相衬图像数据和衰减图像数据;针对第二操作模式:所述控制单元被配置为控制所述X射线探测器以在所述第一光栅和/或所述第二光栅在所述X射线探测器的曝光时间期间正在移动时采集多个图像数据中的每个图像数据。所述控制单元被配置为控制所述至少一个振动换能器以使所述第一光栅和/或所述第二光栅振动。振动的幅度大于或等于所述第一光栅和/或所述第二光栅的所述周期。所述处理单元被配置为生成衰减图像数据和/或校准数据,包括对所述多个图像数据中的至少一些图像数据的时间低通滤波版本的确定。所述输出单元被配置为输出所述衰减图像数据和/或所述校准数据。

基本信息
专利标题 :
用于X射线暗场、相衬和衰减图像采集的系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114302677A
申请号 :
CN202080059753.3
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2020-08-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
T·克勒
申请人 :
皇家飞利浦有限公司
申请人地址 :
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
孟杰雄
优先权 :
CN202080059753.3
主分类号 :
A61B6/00
IPC分类号 :
A61B6/00  
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学;卫生学
A61B
诊断;外科;鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器,如与放射治疗设备相结合的
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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