用于估计分析物的组分的设备和方法
公开
摘要
公开了一种用于估计分析物的组分的设备和方法。所述用于估计分析物的组分的设备可以包括：传感器，包括配置为向分析物发射光的光源和被配置为测量从分析物反射的光的光谱的检测器；以及处理器，被配置为：基于通过在初始操作条件下操作传感器从分析物获得初始量的接收的光，基于接收的光的初始量和初始操作条件来确定最佳操作条件；以及基于通过在最佳操作条件下操作传感器从分析物测量光谱，基于所述光谱来估计分析物的组分。
基本信息
专利标题 ：
用于估计分析物的组分的设备和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577740A
申请号 ：
CN202110246091.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-03-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
严槿鍹金常圭金润载文铉皙朴珍映安城模郑明薰
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道水原市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘灿强
优先权 ：
CN202110246091.7
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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