用于测量纹理映射精度的参考装置

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摘要

本申请涉及一种用于测量纹理映射精度的参考装置、测量纹理映射精度的方法和测量纹理映射精度的系统。其中，该参考装置包括第一结构和第二结构；所述第一结构包括第一平面，第二结构包括第一特征点和第一曲面；其中，所述第一平面与所述第一特征点在所述第一平面的第一垂直投影点具有第一空间位置关系；所述第一曲面在所述第一平面的第一垂直投影图形与所述第一垂直投影点具有第二空间位置关系；所述第一平面与所述第一曲面的表面纹理特征不同。通过本发明，能够解决相关技术中缺少量化纹理映射精度的方案的问题，提供了一种能够用于量化纹理映射精度的参考装置。

基本信息

专利标题：

用于测量纹理映射精度的参考装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112884898A

申请号：

CN202110285609.8

公开（公告）日：

2021-06-01

申请日：

2021-03-17

授权号：

CN112884898B

授权日：

2022-06-07

发明人：

王江峰方乐陈尚俭

申请人：

杭州思看科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市余杭区五常街道文一西路998号12幢101室

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司

代理人：

龙伟

优先权：

CN202110285609.8

主分类号：

G06T17/10

IPC分类号：

G06T17/10 G06T11/00