一种应用于SERF原子磁强计实验装置的双层圆柱体均匀加热...
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摘要
一种应用于SERF原子磁强计实验装置的双层圆柱体均匀加热烤箱结构，通过设置将外层中空圆柱体与内层中空圆柱体同轴套装在加热底盖与加热顶盖之间的双层圆柱体结构，在所述外层中空圆柱体与内层中空圆柱体之间的空隙层填充纳米多孔二氧化硅隔热材料，在所述内层中空圆柱体的圆柱形中空内壁贴满加热膜使得位于所述圆柱形中空内SERF原子磁强计实验装置球形气室的敏感轴到所述加热膜的距离具有中心对称，能够使得球形碱金属气室内温度场分布更加均匀，有利于提高相邻通道信号的刻度因数一致性，保证了共模噪声抑制能力，从而提高SERF原子磁强计实验装置梯度测量灵敏度。
基本信息
专利标题 ：
一种应用于SERF原子磁强计实验装置的双层圆柱体均匀加热烤箱结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113093066A
申请号 ：
CN202110341756.2
公开（公告）日 ：
2021-07-09
申请日 ：
2021-03-30
授权号 ：
CN113093066B
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
陆吉玺蒋硕马丹跃王坤李思然全伟
申请人 ：
北京航空航天大学
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴小灿
优先权 ：
CN202110341756.2
主分类号 ：
G01R33/032
IPC分类号 ：
G01R33/032 F27D7/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/032
采用磁—光设备，例如法拉第的
法律状态
2022-06-14 ：
授权
2021-07-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/032
申请日 : 20210330
申请日 : 20210330
2021-07-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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