相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法
授权
摘要
本发明公开了一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法具体包括如下步骤：步骤1，基于传感器子孔径阵列对光斑的辐照功率和响应电压特性，定义一个响应率参数R(i,j)，作为参考变量；步骤2，根据步骤1中定义的响应率参数R(i,j)，设置一个阈值T，判断并检测出焦平面的坏点，并将坏点处的响应率的值置零去除；步骤3，采用坏点周围的有效点信息对步骤2检测的坏点位置的信息进行插值预测和代替补偿；步骤4，重复执行步骤2～3，进行动态波前坏点去除与补偿，直到步骤2中设置的阈值范围内检测不到坏点，输出此时的光斑阵列图。采用本发明能够实现对坏点的有效去除与补偿，以减小AO系统的校正误差。
基本信息
专利标题 ：
相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113280932A
申请号 ：
CN202110420356.0
公开（公告）日 ：
2021-08-20
申请日 ：
2021-04-19
授权号 ：
CN113280932B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
柯熙政费少龙
申请人 ：
西安理工大学
申请人地址 ：
陕西省西安市碑林区金花南路5号
代理机构 ：
西安弘理专利事务所
代理人 ：
曾庆喜
优先权 ：
CN202110420356.0
主分类号 ：
G01J9/00
IPC分类号 ：
G01J9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2021-09-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/00
申请日 : 20210419
申请日 : 20210419
2021-08-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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