可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质，包括：基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一次校正，否则进入第二次校正条件的判断，判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二次校正，本发明通过对待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布第一断层和第二断层的分布情况进行分析判断，进行两次校正过程，同时实现了图像传感器坏点校正和抑制像元波动。
基本信息
专利标题 ：
可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111800592A
申请号 ：
CN202010689894.5
公开（公告）日 ：
2020-10-20
申请日 ：
2020-07-17
授权号 ：
CN111800592B
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
魏烨卢小银秦少谦万钟霖雷秀军严德斌金一
申请人 ：
合肥富煌君达高科信息技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区天通路10号软件园3号楼107室
代理机构 ：
合肥维可专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴明华
优先权 ：
CN202010689894.5
主分类号 ：
H04N5/367
IPC分类号 ：
H04N5/367 H04N5/217
法律状态
2022-04-29 ：
授权
2020-11-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 5/367
申请日 : 20200717
申请日 : 20200717
2020-10-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
