一种用于天线阻抗检测的校准装置及方法
授权
摘要

本申请提供了一种用于天线阻抗检测的校准装置及方法,以解决如何对不同的终端设备进行单独校准的问题,并且提高校准后阻抗检测的精度。该校准装置应用于测试PCB。该测试PCB中,射频座通过射频前端电路连接收发机。收发机通过阻抗检测接口连接阻抗检测通路,用于测量收发机看向阻抗检测通路的反射系数。校准装置包括夹具PCB板以及设置在夹具PCB板上的校准电路和探针。校准电路连接探针。探针用于连接矢量网络分析仪或射频座。探针在连接矢量网络分析仪时,用于测量探针看向校准电路的第一反射系数;探针在连接射频座时,用于测量收发机看向校准电路的第二反射系数,以根据第一反射系数和第二反射系数,完成天线阻抗检测的校准。

基本信息
专利标题 :
一种用于天线阻抗检测的校准装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113267742A
申请号 :
CN202110444395.4
公开(公告)日 :
2021-08-17
申请日 :
2021-04-23
授权号 :
CN113267742B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
刘亮
申请人 :
荣耀终端有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401
代理机构 :
北京中博世达专利商标代理有限公司
代理人 :
申健
优先权 :
CN202110444395.4
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  G01R27/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-20 :
授权
2021-09-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20210423
2021-08-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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