劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法
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摘要
公开了一种劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法,方法包括以下步骤:在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算衍射亚峰的积分强度,将衍射亚峰标记为未归类衍射亚峰;将在未归类衍射亚峰中积分强度最大的衍射亚峰加入序列L;对序列L中的所有衍射亚峰Pi,根据各衍射亚峰Pi的积分强度,计算各衍射亚峰Pi各自对应的临界偏差距离为εi,在所有不属于序列L的未归类衍射亚峰中,寻找与序列L中的任一衍射亚峰Pi的偏差距离Δε小于衍射亚峰Pi对应临界偏差距离εi的衍射亚峰,并将其加入序列L;将序列L的所有的衍射亚峰定义为同一衍射峰所劈裂出的衍射亚峰,将序列L的所有衍射亚峰重新标记为已归类衍射亚峰。
基本信息
专利标题 :
劳厄衍射图谱中识别同一衍射峰所劈裂衍射亚峰的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113325015A
申请号 :
CN202110520233.4
公开(公告)日 :
2021-08-31
申请日 :
2021-05-12
授权号 :
CN113325015B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
陈凯寇嘉伟
申请人 :
西安交通大学
申请人地址 :
陕西省西安市咸宁西路28号
代理机构 :
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 :
覃婧婵
优先权 :
CN202110520233.4
主分类号 :
G01N23/2055
IPC分类号 :
G01N23/2055
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/2055
衍射图分析
法律状态
2022-05-06 :
授权
2021-09-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2055
申请日 : 20210512
申请日 : 20210512
2021-08-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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