存在衍射峰劈裂的劳厄衍射图谱中标定多个亚晶的方法
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摘要

存在衍射峰劈裂的劳厄衍射图谱中标定多个亚晶的方法,以下步骤:在劳厄衍射图谱中寻找衍射亚峰并计算衍射亚峰的积分强度;识别同一衍射峰所劈裂的各衍射亚峰,基于各衍射亚峰的坐标与积分强度确定各衍射峰的坐标与积分强度;标定各衍射峰获得各衍射峰的米勒指数;将劈裂自同一衍射峰Pi的衍射亚峰排序,将劈裂自不同的衍射峰Pi中排序位置相同的衍射亚峰Si,j组成一个序列Lj;在各序列Lj中识别序列中各衍射亚峰间的角度差偏差ds中的离群点,并替换或删除离群点对应的衍射亚峰,直到没有离群点;如果去除离群点后,序列包含的衍射亚峰数多于参数N,则序列衍射亚峰所劈裂的衍射峰的米勒指数为各衍射亚峰的米勒指数,完成对亚晶的标定。

基本信息
专利标题 :
存在衍射峰劈裂的劳厄衍射图谱中标定多个亚晶的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113325016A
申请号 :
CN202110520234.9
公开(公告)日 :
2021-08-31
申请日 :
2021-05-12
授权号 :
CN113325016B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
陈凯寇嘉伟
申请人 :
西安交通大学
申请人地址 :
陕西省西安市咸宁西路28号
代理机构 :
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 :
覃婧婵
优先权 :
CN202110520234.9
主分类号 :
G01N23/2055
IPC分类号 :
G01N23/2055  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/2055
衍射图分析
法律状态
2022-05-06 :
授权
2021-09-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2055
申请日 : 20210512
2021-08-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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