一种基于劳厄衍射原理对全尺寸异型单晶无损检测的设备
授权
摘要
本实用新型提供一种基于劳厄衍射原理对全尺寸异型单晶无损检测的信息获取设备，所述信息获取设备，包括：X射线发生器(1)、探测器(2)、样品台(3)及变焦镜头(4)；所述样品台(3)用于夹持待测样品；所述X射线发生器(1)的第一滑轨基座(1‑2)与水平方向夹角为45度，所述待测样品的微区法线与所述X射线发生器(1)产生的X射线光束的入射方向呈45度；所述探测器(2)与水平方向夹角为135度，用于接收与实验室坐标系Z轴夹角135度出射的X射线衍射光束；所述变焦镜头(4)垂直对准光斑，用于测距定位。根据本实用新型的方案，可以精确无损得到全尺寸异型单晶的取向、三维应变张量等数据，能够分析计算滑移方向与位错密度。
基本信息
专利标题 ：
一种基于劳厄衍射原理对全尺寸异型单晶无损检测的设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121395239.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-06-23
授权号 ：
CN216525540U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
谷珺昳靳雪艺聂志华谭成文宁先进
申请人 ：
北京理工大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村南大街5号
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
温子云
优先权 ：
CN202121395239.5
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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