立方晶系电子衍射谱标定仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型适用于标定立方晶系物质的电子衍射谱，其标定方法简单、快速、可靠性高且价廉、方便。它由四层圆形薄片同心地重叠而成，中间两层可绕圆心转动。在上三层薄片上均有一指向圆心的直刻线，它们处于同一平面上。上两层中有许多具有一一对应关系的小孔，第三层有许多颜色与薄片差别较大的斑点，它们与上两层的小孔也具有一一对应的关系。在第二层薄片上有一个由r～Lλ/a关系曲线组成的图表，它位于最上层薄片的一个通口下。
基本信息
专利标题 ：
立方晶系电子衍射谱标定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91206287.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-04-16
授权号 ：
CN2100624U
授权日 ：
1992-04-01
发明人 ：
任遥遥
申请人 ：
武汉水利电力学院
申请人地址 ：
430072湖北省武汉市武昌珞珈山
代理机构 ：
武汉水利电力学院专利事务所
代理人 ：
张火春
优先权 ：
CN91206287.8
主分类号 ：
G01N23/20
IPC分类号 ：
G01N23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
法律状态
1995-06-14 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-12-09 ：
授权
1992-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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