连续旋转旋进电子衍射断层扫描的方法
实质审查的生效
摘要

三维电子衍射已逐渐成为人们探索微观世界的强有力的工具,本文中,我们展示了一种新的三维电子衍射数据收集方法,命名为连续旋转旋进电子衍射断层扫描(Continuous Precession Electron Diffraction Tomography,cPEDT),该方法是旋进电子衍射断层扫描(Precession Electron Diffraction Tomography,PEDT)与连续旋转电子衍射(Continuous Rotation Electron Diffraction,cRED)的结合。使用cPEDT的方法,可以避免PEDT方法中步进式的过程引入的不必要的电子剂量,同时利用cPEDT收集到的数据也可以进行动力学精修从而确定材料的精确结构。该方法可以促进三维电子衍射在一些电子束敏感材料上的应用,如,金属‑有机框架材料(Metal‑Organic Frameworks,MOFs)、共价有机框架材料(Covalence Organic Frameworks,COFs)及一些有机物、无机物晶体等。

基本信息
专利标题 :
连续旋转旋进电子衍射断层扫描的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441572A
申请号 :
CN202111657062.6
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙俊良沈弈寒孙文甲刘扬周钲洋
申请人 :
苏州青云瑞晶生物科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市常熟高新技术产业开发区贤士路88号6幢601
代理机构 :
常州市权航专利代理有限公司
代理人 :
张佳文
优先权 :
CN202111657062.6
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/207
申请日 : 20211230
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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