一种基于单色X射线衍射的标定装置
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摘要
本实用新型公开了一种基于单色X射线衍射的标定装置，其中，基材包括上表面和下表面；黏结层配置成将标定装置固定到X射线衍射的样品表面上，所述黏结层设在所述下表面；多晶粉末层设在所述下表面，X射线衍射仪的探测器采集来自样品表面的第一衍射信号和来自多晶粉末的第二衍射信号。
基本信息
专利标题 ：
一种基于单色X射线衍射的标定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921569195.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-19
授权号 ：
CN211318261U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
陈凯朱文欣寇嘉伟沈昊
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁西路28号
代理机构 ：
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 ：
覃婧婵
优先权 ：
CN201921569195.6
主分类号 ：
G01N23/2005
IPC分类号 ：
G01N23/2005
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/2005
粉末状样品制备
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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