基于单色X射线单晶应力测量的调节装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于单色X射线单晶应力测量的调节装置,调节装置这,倾转台包括用于支承的支承部分和倾转连接所述支承部分的倾转部分,所述倾转部分绕共心点倾转,可升降的升降台设在所述倾转部分的水平顶面,样品台可旋转地设在所述升降台上,其旋转轴通过所述共心点;X射线发生器生成单色X射线以照射所述单晶样品,所述X射线发生器沿着以所述共心点为转动中心的圆周进行圆周运动,X射线发生器的照射端始终指向所述共心点,探测器接收来自单晶样品的衍射信号,所述探测器沿着以所述共心点为圆心的圆周进行圆周运动。
基本信息
专利标题 :
基于单色X射线单晶应力测量的调节装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921556262.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-19
授权号 :
CN211348010U
授权日 :
2020-08-25
发明人 :
陈凯沈昊朱文欣寇嘉伟
申请人 :
西安交通大学
申请人地址 :
陕西省西安市咸宁西路28号
代理机构 :
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 :
覃婧婵
优先权 :
CN201921556262.0
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20 G01N23/20025 G01L1/25 G01L5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2020-08-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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