单色X射线的单晶/定向晶应力测量系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种单色X射线的单晶/定向晶应力测量系统，测量系统中，多轴样品台包括沿X轴平移的X自由度、沿Y轴平移的Y自由度、沿Z轴平移的Z自由度、绕Z轴旋转的旋转自由度以及绕X轴和/或Y轴倾转的倾转自由度，共心高调整模块基于样品表面位置使得样品表面处于共心高位置，所述共心高位置为多轴样品台在旋转和倾转过程中不改变高度的位置且为X射线发生器和探测器在平面内旋转的圆心位置，采集模块采集衍射峰信号，计算模块基于衍射峰信号生成应力数据。

基本信息

专利标题：

单色X射线的单晶/定向晶应力测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921594734.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-19

授权号：

CN211785230U

授权日：

2020-10-27

发明人：

陈凯沈昊寇嘉伟朱文欣

申请人：

西安交通大学

申请人地址：

陕西省西安市咸宁西路28号

代理机构：

北京中济纬天专利代理有限公司

代理人：

覃婧婵

优先权：

CN201921594734.1

主分类号：

G01N23/20025

IPC分类号：

G01N23/20025 G01N23/203 G01L1/25 G01L5/00