基于微纳结构滤光片调制和稀疏矩阵变换的光谱重建方法
授权
摘要
本发明提出了一种基于微纳结构滤光片阵列调制和稀疏矩阵变换的光谱重建方法，实现步骤为：构建微纳结构滤光片阵列；对每个微纳结构滤光片的透射光谱进行测量；对每个微纳结构滤光片的透射光谱进行离散点采样；对通过每个微纳结构滤光片的透射光强进行测量；构建矩阵方程；对矩阵方程进行离散余弦变换；对离散余弦变换矩阵方程进行稀疏变换；获取光谱重建结果。本发明解决了现有技术中未对噪声误差进行处理，所获取的重建光谱仍会受到噪声误差的影响，同时有效的减小了重建光谱的均方根误差，仿真结果表明，本发明有效提高了光谱重建的精度。
基本信息
专利标题 ：
基于微纳结构滤光片调制和稀疏矩阵变换的光谱重建方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113324920A
申请号 ：
CN202110585057.2
公开（公告）日 ：
2021-08-31
申请日 ：
2021-05-27
授权号 ：
CN113324920B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
刘德连郭文豪叶云龙张建奇
申请人 ：
西安电子科技大学
申请人地址 ：
陕西省西安市太白南路2号
代理机构 ：
陕西电子工业专利中心
代理人 ：
陈宏社
优先权 ：
CN202110585057.2
主分类号 ：
G01N21/25
IPC分类号 ：
G01N21/25 G06F17/14 G06F17/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2021-09-17 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/25
申请日 : 20210527
申请日 : 20210527
2021-08-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
