基于故障模型的MMC子模块IGBT开路故障诊断方法
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摘要
本发明公开了一种基于故障模型的MMC子模块IGBT开路故障诊断方法，本发明提利用改进欧拉方程建立故障子模块的故障模型，实现故障下子模块电容电压的精确建模和表达，利用故障模型输出的电压同采样电压做比较，从而实现开关管的开路故障诊断和定位。本发明所提出的方法能够在子模块故障情况下的任何状态实现故障诊断，因此缩短了故障诊断和定位的时间。
基本信息
专利标题 ：
基于故障模型的MMC子模块IGBT开路故障诊断方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113358997A
申请号 ：
CN202110598920.8
公开（公告）日 ：
2021-09-07
申请日 ：
2021-05-31
授权号 ：
CN113358997B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
刘泽浩肖岚伍群芳李金波时思航
申请人 ：
南京航空航天大学
申请人地址 ：
江苏省南京市秦淮区御道街29号
代理机构 ：
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 ：
陆烨
优先权 ：
CN202110598920.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R31/54 G06F30/367
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2021-09-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20210531
申请日 : 20210531
2021-09-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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