一种发光器件激子特性参数反演方法及装置
授权
摘要
本发明提供了一种发光器件激子特性参数反演方法及装置，属于发光器件领域，方法包括：构建基于发光器件TM/TE偏振态远场视角光谱、激子特性参数以及ETL膜层厚度的正向模型；调整正向模型中ETL膜层厚度，筛选出对激子分布函数敏感的第一ETL膜层厚度集；基于实际测量的TE偏振态远场视角光谱与基于最终ETL膜层厚度获取的理论TE偏振态远场视角光谱，结合线性拟合方法与非线性拟合方法，获取发光器件最终的激子分布函数；基于最终的激子分布函数和实际测量的TE偏振态远场视角光谱，采用最小二乘法反演得到激子取向参数。本发明无需提前获取激子分布初始形貌，实现了发光器件特性参数的准确、鲁棒性良好地反演。
基本信息
专利标题 ：
一种发光器件激子特性参数反演方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113465887A
申请号 ：
CN202110705702.X
公开（公告）日 ：
2021-10-01
申请日 ：
2021-06-24
授权号 ：
CN113465887B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
谷洪刚陈林雅刘世元柯贤华江浩
申请人 ：
华中科技大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市珞喻路1037号
代理机构 ：
武汉华之喻知识产权代理有限公司
代理人 ：
李君
优先权 ：
CN202110705702.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01J3/28 G06F30/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2021-10-26 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20210624
申请日 : 20210624
2021-10-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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