一种基于空间线性叠加原理的光功率校准方法
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摘要
本发明涉及一种基于空间线性叠加原理的光功率校准方法。其目的是为了实现了光功率低值溯源，同时解决了现有的校准装置体积大，不便于外出携带的问题。本发明中，被校光功率计值的测量值是按1/5和1/10倍率衰减，校准点满足了常规选点要求20％间隔五个点，和10％间隔10个点的校准需求。因为由光功率值从高到低的校准过程，降低了校准结果的分辨率，提高了校准结果的分辨率，降低了校准结果的测量不确定度。所采用的校准装置内部组成设备比较少，体积小，全自动化，无需大型光轨，所以操作简单、成本低、便于携带，可实现现场校准。
基本信息
专利标题 ：
一种基于空间线性叠加原理的光功率校准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113595627A
申请号 ：
CN202110750120.3
公开（公告）日 ：
2021-11-02
申请日 ：
2021-07-02
授权号 ：
CN113595627B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
阚劲松徐迎春刘冲张珊何丽娇
申请人 ：
中国电子技术标准化研究院
申请人地址 ：
北京市东城区安定门东大街1号
代理机构 ：
北京头头知识产权代理有限公司
代理人 ：
白芳仿
优先权 ：
CN202110750120.3
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079 H04B10/077
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2021-11-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20210702
申请日 : 20210702
2021-11-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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