一种通过信息系统检核试片的分析位置及分析需求的材料分析方...
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种通过信息系统检核试片的分析位置及分析需求的材料分析方法，藉由在不同工作站点分别进行截图，并且分别传送储存至服务器的指定地点，故各工作站点的分析人员可便利地利用储存于服务器的各工作站点的截图检核前述待分析样品在各工作点进行的分析位置及分析方法是否正确，确保样品分析无误。
基本信息
专利标题 ：
一种通过信息系统检核试片的分析位置及分析需求的材料分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486879A
申请号 ：
CN202110767429.3
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-07-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
柳纪纶简文祥姚文振
申请人 ：
汎铨科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹市东区埔顶路27号1楼
代理机构 ：
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡少青
优先权 ：
CN202110767429.3
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N21/01 G01N23/04 G01N23/20 G01N23/20008 G01Q60/24 G01N27/26 G01N23/2251 G01N23/20091 G01N23/2273
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20210707
申请日 : 20210707
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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