一种多层结构孔洞缺陷超声自聚焦检测方法
授权
摘要
本发明提供一种多层结构孔洞缺陷超声自聚焦检测方法，包括：(1)针对该多层结构中任一未遍历层，确定该层声速初始值，并以该声速初始值作为当前声速值，进入下一步；(2)将当前声速值与全矩阵数据作为输入，采用相位偏移法，对当前层进行聚焦成像，对当前聚焦成像结果进行评估，若评估值满足要求，输出当前聚焦成像结果和当前声速值；若评估值不满足要求，则进入下一步；(3)将所得评估值作为参考，对当前声速值进行优化，返回步骤(2)；(4)重复步骤(2)～(3)，直至所有层遍历完毕，得到各层的最优声速值和最优图像。本发明实现了孔洞缺陷成像的自动聚焦，提高了相位偏移法对声速的鲁棒性。
基本信息
专利标题 ：
一种多层结构孔洞缺陷超声自聚焦检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113552219A
申请号 ：
CN202110858599.2
公开（公告）日 ：
2021-10-26
申请日 ：
2021-07-28
授权号 ：
CN113552219B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
赵朋纪凯鹏颉俊卓超杰陈剑叶盛周宏伟傅建中
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区浙大路38号
代理机构 ：
杭州知闲专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
黄燕
优先权 ：
CN202110858599.2
主分类号 ：
G01N29/06
IPC分类号 ：
G01N29/06 G01N29/07 G01N29/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/06
内部的显像，例如，声显微技术
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2021-11-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/06
申请日 : 20210728
申请日 : 20210728
2021-10-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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