带观察窗的上光源和采用该上光源的线扫成像用光源
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摘要

本发明提供了一种带观察窗的上光源和采用该上光源的线扫成像用光源,属于光学检测系统领域,上光源包括视窗组件、光棒、风冷灯体、端板、侧边板和电源组件;视窗组件包括视窗板、半透半反板和出光立板。线扫成像用光源包括灯条、光源支架、下光调节组件、弧形瓦灯和前述的上光源;两个灯条在下光调节组件的驱动下实现高度调节;上光源的视窗板穿过瓦缝和两个灯条之间的缝隙,以此实现对灯条下方物体的光照且便于图像采集。该上光源集成了光照、观察窗和散热,极大地减小了占用空间,为稳定的光照和图像观察或采集提供了技术支撑。整体光源的下光源高度可调,使得光照范围和适用性提高。该光源便于在线路板、硅片等成像检测领域推广应用。

基本信息
专利标题 :
带观察窗的上光源和采用该上光源的线扫成像用光源
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113740259A
申请号 :
CN202111015647.8
公开(公告)日 :
2021-12-03
申请日 :
2021-08-31
授权号 :
CN113740259B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
温延培杨云仙刘华雷刘洋曹葵康徐一华
申请人 :
苏州天准科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区科技城浔阳江路70号
代理机构 :
北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郭士磊
优先权 :
CN202111015647.8
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/95  F21V29/67  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-12-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20210831
2021-12-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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