使用隐藏最低有效比特（HLSB）的高分辨率ZQ校准方法
公开
摘要
提供了一种隐藏最低有效比特(HLSB)的高分辨率阻抗调节(ZQ)校准方法、存储器装置以及多芯片封装件。该高分辨率ZQ校准方法通过将隐藏最低有效比特(HLSB)添加到阻抗调节(ZQ)焊盘的ZQ校准操作中输出的n比特的ZQ码来生成n+1比特的数据输入/输出(DQ)码而没有增加校准时间。通过n+1比特的DQ码，DQ焊盘的终端电阻的改变减小为尽可能小。
基本信息
专利标题 ：
使用隐藏最低有效比特（HLSB）的高分辨率ZQ校准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114360591A
申请号 ：
CN202111075585.X
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-09-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
姜玄锡朴廷埈姜景太李俊夏郑秉勋
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵南
优先权 ：
CN202111075585.X
主分类号 ：
G11C5/02
IPC分类号 ：
G11C5/02 G11C7/10 G11C16/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C5/00
包括在G11C11/00组中的存储器零部件
G11C5/02
存储元件的排列，例如，矩阵形式的排列
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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