一种电路仿真优化方法、装置、计算机设备及存储介质

授权

摘要

本发明适用于计算机技术领域，提供了一种电路仿真优化方法、装置、计算机设备及存储介质，电路仿真优化方法包括：获取设计电路的初始设计参数，并根据电路的初始设计参数计算初始S参数值；根据初始S参数值和预设的S参数阈值判断设计电路是否满足设计要求；当设计电路不满足设计要求，计算S参数对应的目标函数在初始设计参数处的导数；根据导数在初始设计参数的预设区间内搜索S参数对应的目标函数的极小值点。本方案在设计电路不满足设计要求时，通过计算S参数对应的目标函数在初始设计参数处的导数，可以根据所述导数确定目标函数的梯度方向，进而沿梯度下降方向搜索极小值点，确定优化设计，保障设计电路的仿真优化效果，且提高优化效率。

基本信息

专利标题：

一种电路仿真优化方法、装置、计算机设备及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113609815A

申请号：

CN202111083415.6

公开（公告）日：

2021-11-05

申请日：

2021-09-16

授权号：

CN113609815B

授权日：

2022-05-13

发明人：

不公告发明人

申请人：

芯和半导体科技（上海）有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区纳贤路60弄5号4层01室

代理机构：

上海乐泓专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

王瑞

优先权：

CN202111083415.6

主分类号：

G06F30/398

IPC分类号：

G06F30/398 G06F115/12

IPC结构图谱

G部——物理

G06

计算；推算或计数

G06F

电数字数据处理

G06F30/398

设计验证或优化，例如：使用设计规则检查、布局与原理图或有限元方法

法律状态

2022-05-13 ：

授权

2021-11-23 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G06F 30/398
申请日 : 20210916

2021-11-05 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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