确定至少一个评估测量数据所需的几何参数的计算机实现方法
公开
摘要
本发明涉及确定至少一个评估测量数据所需的几何参数的计算机实现方法，其中，该测量数据是借助对具有构件几何形状的构件的透射射线测量确定的，其中，通过该测量数据生成数字构件表示，其中，该方法(100)包括以下步骤：借助对构件的透射射线测量确定测量数据的步骤(102)；识别该数字构件表示中和/或构件几何形状中的区域作为参考区域的步骤(104)；借助该参考区域确定至少一个评估所确定的测量数据所需的几何参数的步骤(106)。利用该方法(100)，需要比现有技术更低的计算能力。此外，可以毫不费力地使用该方法(100)。
基本信息
专利标题 ：
确定至少一个评估测量数据所需的几何参数的计算机实现方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486955A
申请号 ：
CN202111248588.9
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-10-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
C·波利沃达S·舒勒M·弗莱斯纳T·京特
申请人 ：
音量制图法公司
申请人地址 ：
德国海德尔堡
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
党晓林
优先权 ：
CN202111248588.9
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046 G01B15/00 G06F30/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
