选择最佳电气/电子结构的方法、系统和软件
实质审查的生效
摘要
选择最佳电气/电子结构的方法、系统和软件。从多个电气/电子结构变体中选择最佳电气/电子结构的方法和系统。输入块(11)接收多个电气/电子结构变体的布线数据和部件数据(16、17)。对于每个电气/电子结构变体，计算块(12)生成第一电流路径的第一数据记录，该第一电流路径从起始部件以第一导线开始并且通过一个或更多个居间部件传导到端点。输出块(13)生成沿着第一电流路径的导线和居间部件序列以及源自居间部件的任何另选电流路径的第一数据日志(19a)。输出块(13)还计算每个电气/电子结构的故障概率值，并部分地基于电气/电子结构的被计算出的故障概率值从多个电气/电子结构变体中选择最佳电气/电子结构。
基本信息
专利标题 ：
选择最佳电气/电子结构的方法、系统和软件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487636A
申请号 ：
CN202111256209.0
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-10-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
F·格罗瑙D·波尔H·波思K·阿塔兰
申请人 ：
APTIV技术有限公司
申请人地址 ：
巴巴多斯圣迈克尔
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
党晓林
优先权 ：
CN202111256209.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211027
申请日 : 20211027
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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