校准光度分析仪的方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种校准光度分析仪的方法，所述光度分析仪设计用于确定分析物的硅酸根含量，所述方法包括以下步骤：检测第一测量点，步骤如下：将第一试剂添加至第一校准标准物的样品中，将第二试剂添加至该样品中，将第三试剂添加至该样品中；检测第二测量点，其中所述第二测量点与所述第一测量点不同，步骤如下：将所述第二试剂添加至第二校准标准物的样品中，将所述第一试剂添加至该样品中，将第三试剂添加至该样品中；使用所述第一测量点和第二测量点确定校准线的零点和斜率。
基本信息
专利标题 ：
校准光度分析仪的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441460A
申请号 ：
CN202111293205.X
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2021-11-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
丹尼尔·施魏策尔乔纳森·魏因布伦纳
申请人 ：
恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
申请人地址 ：
德国盖林根
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
杨海荣
优先权 ：
CN202111293205.X
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/31
申请日 : 20211103
申请日 : 20211103
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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