一种超宽带波形分析仪上升时间的校准装置及校准方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种超宽带波形分析仪上升时间的校准装置及校准方法,属于上升时间的校准装置领域,所述的校准装置包括连续激光器、相位调制器Ⅰ、相位调制器Ⅱ、可编程光滤波器、控制机、光纤放大器、高速光电探测器、射频放大器Ⅰ、射频放大器Ⅱ、移相器、功率分配器、频率综合器、参考时钟、触发信号发生器,本发明采用梳状光信号生成处理及高速光电探测器转换的方法实现了几个皮秒的标准快沿阶跃电脉冲信号产生,解决了超宽带波形分析仪上升时间的校准难题,实现了超宽带波形分析仪上升时间的直接校准,提升了超宽带波形分析仪上升时间的校准能力。

基本信息
专利标题 :
一种超宽带波形分析仪上升时间的校准装置及校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384458A
申请号 :
CN202111672358.5
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谢文龚鹏伟谌贝姜河刘爽赵珞
申请人 :
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号12号楼
代理机构 :
中国航天科工集团公司专利中心
代理人 :
葛鹏
优先权 :
CN202111672358.5
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211231
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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