信号测量电路装置
实质审查的生效
摘要

一种信号测量电路装置,包含一电路板结构以及由该电路板结构所形成的一多导体传输线段、一高频测量探点段及一转换段,其中该转换段设置介于该多导体传输线段及该高频测量探点段之间以连接至该多导体传输线段及该高频测量探点段。该高频测量探点段包含一组高频测量探点;该组高频测量探点设置在该电路板结构的一第一金属层上以接触一高频探针以传输一高频信号。该电路板结构的一第二金属层定义一开槽;该开槽对应于该高频测量探点段及该转换段设置以协助该高频探针及该多导体传输线段之间的一模态转换。

基本信息
专利标题 :
信号测量电路装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518476A
申请号 :
CN202111324472.9
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2021-11-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林弘萱
申请人 :
万旭电业股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新北市五股区五股工业区五工六路72号3-5楼
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
张燕华
优先权 :
CN202111324472.9
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  H01P3/00  H01P3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/067
申请日 : 20211110
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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