一种基于温度补偿的SF6密度继电器校验装置
公开
摘要
本发明涉及一种基于温度补偿的SF6密度继电器校验装置，包括壳体、固定套和固定杆，固定套包括U形环和压环，U形环和压环之间形成固定孔，固定杆的一端固定连接在壳体上，固定杆的另一端与压环相连，固定套和壳体之间设有温度调节组件，所述固定套或壳体上设有温度传感器，本发明的优点：通过固定套将SF6密度继电器固定在壳体内，由于壳体内设有温度调节组件，因此通过温度调节组件改变SF6密度继电器所处的恒温环境温度，通过恒温环境温度的改变触发密度继电器报警及闭锁触点，通过环境温度来获取压力值，无需使用SF6气体来达到气体流动产生压力变化的目的，因此无SF6排放问题，环保性及经济性更好。
基本信息
专利标题 ：
一种基于温度补偿的SF6密度继电器校验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295968A
申请号 ：
CN202111376348.7
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-11-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘松成陈文通吴雪峰盛逸标范旭明黄晓峰陈亢徐阳建杜羿陈廉政洪欢陈全仇京伦
申请人 ：
国网浙江省电力有限公司金华供电公司
申请人地址 ：
浙江省金华市婺城区双溪西路420号
代理机构 ：
杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
俞宏涛
优先权 ：
CN202111376348.7
主分类号 ：
G01R31/327
IPC分类号 ：
G01R31/327
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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