一种带电粒子束扫描成像设备实际像素尺寸的获取方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种带电粒子束扫描成像设备实际像素尺寸的获取方法,包括:规划晶圆上实际像素尺寸测量的工作区域;将全部待测像素对应的放大倍率区分为第一放大倍率和更高的第二放大倍率;当获取第一放大倍率的实际像素尺寸时,提取满足预设条件的模板,模板包括一或多个子模板,子模板包括子图像和/或独立特征点;当获取第二放大倍率的实际像素尺寸时,提取基于曲线的图像类模板或曲线类模板;依次获得各放大倍率对应的实际像素尺寸,其步骤均包括:移动晶圆采集目标图像,用模板在目标图像中进行匹配,获取模板的位置和匹配位置之间的目标位移,根据晶圆实际位移和目标位移获得实际像素尺寸。本发明可改进成功率、测量精度及时间成本。

基本信息
专利标题 :
一种带电粒子束扫描成像设备实际像素尺寸的获取方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414605A
申请号 :
CN202111413852.X
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-11-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘骊松
申请人 :
上海精测半导体技术有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层
代理机构 :
苏州友佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
储振
优先权 :
CN202111413852.X
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2251
申请日 : 20211125
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332