本发明公开了一种注错测试方法、装置、系统及计算设备，涉及计算机设备领域，该注错测试方法，应用于MCU，MCU与BMC连接，包括：获取BMC输出的处理数据；根据处理数据的数据标识，确定处理数据中的异常数据的可能异常原因；根据异常数据对应的可能异常原因，确定与各个可能异常原因对应的至少一种方式并利用至少一种方式对BMC的连接设备进行注错；获取注错后的注错数据，将注错数据与异常数据进行对比，确定异常数据的准确异常原因。采用该方法保证可以快速确定异常数据的准确异常原因。实现了对BMC的连接设备的监控，便于确定连接设备的故障原因，且提高了工作效率。