一种芯样垂直度测量系统
公开
摘要
本申请实施例提供一种芯样垂直度测量系统，涉及芯样垂直度领域。芯样垂直度测量系统包括：控制底座组件、转盘组件和测量组件。芯样压缩位移传感器，产生初始位移，夹紧件夹紧固定住芯样，电动转盘带动芯样转动，记录第一位移测量件和第二位移测量件上下两点位移变化量（连续曲线），同一时刻两点位移差记为S，第一位移测量件和第二位移测量件之间间距记为L，通过公式：余切值=L/S（S取测量最大值），通过余切值换算成角度，进而判断垂直度。通过第一位移测量件和第二位移测量件检测外壁的偏差值，再计算出垂直度，减少人工手动测量，肉眼读数，人工耗时长，还效率低并且易出错的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种芯样垂直度测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114383588A
申请号 ：
CN202111439362.7
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李德平刘勇王佩仪杨兵陈文辉周禹熹肖文林
申请人 ：
深圳市勘察研究院有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区福中东路15号
代理机构 ：
北京盛联科创知识产权代理有限公司
代理人 ：
张晓龙
优先权 ：
CN202111439362.7
主分类号 ：
G01C15/12
IPC分类号 ：
G01C15/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
G01C15/12
测定固定角度的器械
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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