一种芯样垂直度测量系统
授权
摘要
本申请提供了一种芯样垂直度测量系统，属于垂直度测量技术领域。该芯样垂直度测量系统包括检测台、驱动组件和测量组件，所述驱动组件包括箱体、转轴、第一电机、转盘、弹性件、夹板和芯样本体，所述箱体安装于所述检测台顶部，所述转轴一端转动设置于所述箱体内，所述第一电机安装于所述箱体内，所述第一电机输出端传动连接于所述转轴，所述测量组件包括调节支架、位移传感器本体和探头本体，通过设置转盘、弹性件、夹板和芯样本体，能够方便将芯样垂直夹紧固定住，通过设置箱体、转轴和第一电机，能够带动转盘和芯样本体转动，通过设置调节支架、位移传感器本体和探头本体，能够快速准确的测量出芯样垂直度，大大提高了测量效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯样垂直度测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122967174.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
CN216645305U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
李德平刘勇王佩仪杨兵陈文辉周禹熹肖文林
申请人 ：
深圳市勘察研究院有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区福中东路15号
代理机构 ：
北京盛联科创知识产权代理有限公司
代理人 ：
张晓龙
优先权 ：
CN202122967174.3
主分类号 ：
G01B21/22
IPC分类号 ：
G01B21/22 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/22
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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