数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射;获取目标探测器在各所述发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据;基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理,得到目标校正关系;所述目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系;利用所述目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理,得到校正后的目标计数数据。采用本方法能够提高探测器的响应均匀性。
基本信息
专利标题 :
数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324421A
申请号 :
CN202111476287.1
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐探许文挺
申请人 :
武汉联影生命科学仪器有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉新能源研究院大楼G2-103室(自贸区武汉片区)
代理机构 :
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 :
樊春燕
优先权 :
CN202111476287.1
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/046
申请日 : 20211206
申请日 : 20211206
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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