预驱采样电路诊断方法、组件及可读存储介质
公开
摘要
本申请提供一种预驱采样电路诊断方法、组件及可读存储介质，预驱采样电路诊断方法包括：向预驱采样电路的第一采样端和第二采样端输入预设电压；获取并判断所述预驱采样电路的实际输出电压是否满足所述预驱采样电路的设计输出电压要求；在不满足所述设计输出电压要求时，生成预驱采样电路失效信号。通过向预驱采样电路的两个采样端注入预设的测试电平，从而判断预驱采样电路的输出电平是否满足要求的方式，能够在采样电路发生故障时，及时识别并且上报故障，使主程序切断电机助力，避免EPS控制器错乱助力。
基本信息
专利标题 ：
预驱采样电路诊断方法、组件及可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578206A
申请号 ：
CN202111478977.0
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陶喆朱心放苗会彬蔡润佳吴广庆田佰辉
申请人 ：
上海拿森汽车电子有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区自由贸易试验区金海路1000号16幢101单元
代理机构 ：
上海波拓知识产权代理有限公司
代理人 ：
李森
优先权 ：
CN202111478977.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G05B23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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