电路装置及其测试和/或诊断方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
为了进一步开发一种电路装置(100；100’)，尤其是应用电路，被设置为产生至少一个测试图案，以及一种用于测试和/或诊断电路装置(100；100’)的方法，确保了可靠的故障检测，提出可以借助至少一个测试图案重新建模/扩展元件(10、12、14；10’、12’、14’)把测试图案重新建模和/或扩展为至少一个可预置和/或确定性的测试矢量，至少一个测试图案重新建模/扩展元件(10、12、14；10’、12’、14’)被设置、尤其是被插入至少一个信号路径(50)上的至少一个、尤其是每一个分支点(52、54、56)的上游。
基本信息
专利标题 ：
电路装置及其测试和/或诊断方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101147076A
申请号 ：
CN200580045915.3
公开（公告）日 ：
2008-03-19
申请日 ：
2005-12-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
安德里斯·格鲁瓦茨弗雷德里希·哈克史蒂芬·艾亨勃格
申请人 ：
NXP股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
陈瑞丰
优先权 ：
CN200580045915.3
主分类号 ：
G01R31/3181
IPC分类号 ：
G01R31/3181
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/3181
•••性能测试
法律状态
2011-01-19 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101062890284
IPC(主分类) : G01R 31/3181
专利申请号 : 2005800459153
公开日 : 20080319
号牌文件序号 : 101062890284
IPC(主分类) : G01R 31/3181
专利申请号 : 2005800459153
公开日 : 20080319
2008-05-14 ：
实质审查的生效
2008-03-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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