一种用于反射镜光学加工原位检测的装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种反射镜检测装置,尤其涉及一种用于反射镜光学加工原位检测的装置。本发明提供一种操作简单和方便固定反射镜的用于反射镜光学加工原位检测的装置。一种用于反射镜光学加工原位检测的装置,包括有底座、上料台、干涉测量仪、扫描器、负压机构、翻转机构和推动机构等;底座上部设有负压机构,负压机构上设有上料台,底座上部左侧设有翻转机构,翻转机构上设有干涉测量仪,翻转机构上设有推动机构,推动机构上设有扫描器。本发明通过人们启动减速电机,使得减速电机输出轴转动带动丝杆转动,从而使得螺母和第二滑块向右移动,使得扫描器向右移动,进而扫描器对反射镜进行检测,以此实现了自动检测的效果,操作简单。

基本信息
专利标题 :
一种用于反射镜光学加工原位检测的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324242A
申请号 :
CN202111508219.9
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘金屏蔡福军
申请人 :
江西超联光电科技有限公司
申请人地址 :
江西省上饶市经济技术开发区旭日片区兴业大道
代理机构 :
泉州企记知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
缪恩生
优先权 :
CN202111508219.9
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/45
申请日 : 20211210
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332