本发明公开了一种光学材料折射率测试装置及测试方法，所述装置包括多波长光路系统、原位高度测量系统和位相检测系统，及双光路模块和正交偏光模块、自动升降模块、快速聚焦模块和实时高度测算模块、自动成像模块；其中，所述多波长光路系统包括双光路模块和正交偏光模块；所述原位高度测量系统包括快速聚焦模块、自动升降模块和实时高度测算模块；所述位相检测系统包括自动成像模块。本发明提供的折射率测试装置和测试折射率的方法，能够有效地实现连续波长折射率测试，充分考虑折射率的频率色散。本发明基于微晶颗粒的折射率测试装置及测试方法，将有助于非线性光学晶体、双折射晶体等新型光学材料的快速性能评估，大幅缩短材料研发周期。