一种折射率测试系统
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种具有反射型光纤传感器的折射率测试系统。该系统由反射型光纤传感器、驱动电源、光源、信号处理设备、终端设备及连接这些部件的光纤或电缆组成。反射型光纤传感器有无源和有源两种，其内部结构有多种不同形式。使用本发明能连续测量折射率及其相关的物理量，如浓度、密度等。本发明克服了常规光学仪器结构复杂庞大、灵活性差的缺点，又克服了现有光纤传感器的灵敏度低、结构不大牢固的缺点。
基本信息
专利标题 ：
一种折射率测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85100867A
申请号 ：
CN85100867.4
公开（公告）日 ：
1986-06-10
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85100867B
授权日 ：
1988-03-16
发明人 ：
林为干杨淑雯邹景荣叶昆琤
申请人 ：
成都电讯工程学院
申请人地址 ：
四川省成都市东城区建设北路二段四号
代理机构 ：
成都电讯工程学院专利代理室
代理人 ：
马新民
优先权 ：
CN85100867.4
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
1992-08-26 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-07-05 ：
授权
1988-03-16 ：
审定
1986-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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