一种亚毫米量级微小样品折射率的测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种亚毫米量级微小样品折射率的测试方法，所述方法是利用以光电效应为理论基础，通过将显微镜与显微分光光度计联用测试得到样品的反射率R，再将测得的实验数据经菲涅尔方程转换后计算得到测试样品的折射率。本发明对测试样品的尺寸形状没有严格的要求，能够满足亚毫米级晶体和非晶态固体物质折射率的测试需要。
基本信息
专利标题 ：
一种亚毫米量级微小样品折射率的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527096A
申请号 ：
CN202210153694.7
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2022-02-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
潘世烈杨云王飞翔
申请人 ：
中国科学院新疆理化技术研究所
申请人地址 ：
新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市北京南路40号附1号
代理机构 ：
乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
张莉
优先权 ：
CN202210153694.7
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/41
申请日 : 20220219
申请日 : 20220219
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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