一种测试样品的制备方法及测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种测试样品的制备方法及测试方法。所述测试样品的制备方法包括:提供积层介质结构,积层介质结构包括层叠设置的载体层和半固化功能层;提供芯板,芯板包括芯板本体和至少位于芯板本体一侧表面的箔层;将积层介质结构压合在箔层背离芯板本体的一侧表面,使半固化功能层和箔层贴合;将积层介质结构压合在箔层背离芯板本体的一侧表面之后,对半固化功能层进行固化处理,使得半固化功能层形成测试功能层;对半固化功能层进行固化处理之后,将箔层从芯板本体上剥离;将箔层从芯板本体上剥离之后,去除测试功能层表面的箔层得到测试样品。本发明的测试样品的制备方法可以形成平整度好、固化均匀的测试样品。
基本信息
专利标题 :
一种测试样品的制备方法及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324446A
申请号 :
CN202111680098.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
桂萌琦杨芳
申请人 :
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司;上海先方半导体有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号传感网国际创新园D1栋
代理机构 :
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 :
林韵英
优先权 :
CN202111680098.6
主分类号 :
G01N25/00
IPC分类号 :
G01N25/00 G01N5/04 G01N1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 25/00
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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