界面热导测试样品及其形成方法
实质审查的生效
摘要
本申请公开一种对待检测材料进行预处理,得到片状样品,以所述片状样品垂直于厚度方向上的一侧表面作为目标表面,所述片状样品内具有增强相颗粒;选择所述目标表面内暴露的增强相颗粒作为目标颗粒,所述目标颗粒暴露的表面作为参考面;将所述片状样品置于镶样槽内,调整所述目标表面与槽底之间的夹角为预设倾斜角度;向所述镶样槽内注入镶样胶体并固化,得到包裹有所述片状样品的镶嵌试样;沿所述镶嵌试样的一侧表面向所述目标颗粒方向对所述镶嵌试样进行磨抛,直至磨抛至磨抛面与所述目标颗粒的参考面的边缘之间的距离小于等于预设距离,得到测试样品,所述磨抛面作为测试样品的被测表面。上述方法能够制备满足TDTR测试的测试样品。
基本信息
专利标题 :
界面热导测试样品及其形成方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324458A
申请号 :
CN202111618128.0
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘悦刘玉菲王晶晶杨昆明范同祥
申请人 :
上海交通大学
申请人地址 :
上海市徐汇区华山路1954号
代理机构 :
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司
代理人 :
董琳
优先权 :
CN202111618128.0
主分类号 :
G01N25/20
IPC分类号 :
G01N25/20 G01N1/28 G01N1/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化,即量热法,例如通过测量比热,测量热导率
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 25/20
申请日 : 20211227
申请日 : 20211227
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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