一种用于光纤折射率的微区椭偏测试的样品台
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于光纤折射率的微区椭偏测试的样品台，包括样品台，样品台包括位移台组件、光纤固定组件和底座，位移台组件安装于底座上，用于光纤的位置调节，光纤固定组件安装于位移台组件上部，用于固定光纤；所述位移台组件包括三维位移平台和旋转台，旋转台安装于三维位移平台上；光纤固定组件包括导杆、法兰盘和连接块，导杆底部固定在旋转台中心，导杆和连接块之间通过橡胶螺丝挤压固定，松动导杆和连接块之间的橡胶螺丝时，连接块上下移动；法兰盘固定在连接块上，法兰盘上设有用于连接光纤样品的连接头。通过调节三维位移平台和旋转台，实现精确调整光纤样品位置。
基本信息
专利标题 ：
一种用于光纤折射率的微区椭偏测试的样品台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123175406.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-16
授权号 ：
CN216594089U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
连洁张裕魏铭洋王宸琳许镇王月明周翔安
申请人 ：
山东大学
申请人地址 ：
山东省青岛市即墨区鳌山卫街道滨海路72号山东大学青岛校区
代理机构 ：
青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵梅
优先权 ：
CN202123175406.8
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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